공동기기원

시험분석안내

• 미세구조분석
  • 주사전자현미경(SEM)
  • 투과전자현미경(TEM)
  • 집속이온빔장치(FIB)
• 표면분석
  • 이차이온질량분석(SIMS)
  • X선 회절분석(XRD)
  • 오제전자분광분석(AES)
  • 광전자분광분석(XPS)
  • 표면깊이낙차측정(Profiler)
  • 원자힘현미경(AFM)
  • 3D형상측정레이저공초점현미경
• 분광분석
  • 핵자기공명분광분석(NMR)
  • 적외선분광분석(IR)
  • 자외/가시광분광광도계(UV)
  • 라만분광분석(Raman)
  • X선 형광분석(XRF)
  • 유도결합플라즈마분광분석(ICP)
• 분리분석
  • 가스크로마토그래피(GC)
  • 액체크로마토그래피(LC)
  • 이온크로마토그래피(IC)
  • 연소이온크로마토그래피(CIC)
  • 원소분석(EA)
• 바이오분석
  • 공초점현미경(Confocal)
• 물성측정
  • 열분석(TA)
  • 점도계(Rheometer)
  • 액체섬광계수(LSC)
  • 비표면적/공극도측정(BET)
  • 열확산도측정(LFA)
  • 비열측정