미세구조분석실 연구장비 소개
| No. | 설치장소 | 기기명 | 단축명 | 모델명 | 담당자 | 연락처 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 미세구조분석실 : 전자현미경동 82101호 | 구면수차보정투과전자현미경(HRTEMⅢ) | HRTEMⅢ(Cs_corrected/STEM/EDS/EELS) | JEM ARM 200F | 송지호(Song Ji-ho) |
031-299-6734
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| 2 | 미세구조분석실 : 전자현미경동 82101호 | 분석투과전자현미경(HRTEMⅡ) | HRTEMⅡ(STEM/EDS) | JEM-2100F | 강은정(Kang Eun-Jung) |
031-299-6735
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| 3 | 미세구조분석실 : 전자현미경동 82101호 | 고분해능 투과전자현미경(HRTEMⅠ) | HRTEMⅠ(EDS) | JEM-3010 | 김지혜(Kim Jihye) |
031-299-6738
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| 4 | 미세구조분석실 : 81B101호 | 열전계방사형주사전자현미경(FESEMⅡ/EDS/EBSD) | FESEMⅡ/EDS/EBSD | JSM7000F | 신나라(Shin Nara) |
031-299-6730
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| 5 | 미세구조분석실 : 81B106호 | 전계방사주사전자현미경(FESEMⅢ/EDS) | FESEMⅢ/EDS | JSM7500F | 강채연(Kang Chaeyeon) |
031-299-6737
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| 6 | 미세구조분석실 : 81B101호 | 열전계주사전자현미경Ⅳ(FE-SEMIV/EDS) | FESEMⅣ/EDS | JSM-7600F | 김현정(Kim Hyun Jung) |
031-299-6776
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| 7 | 미세구조분석실 : 81B106호 | 주사전자현미경 | SEM | JSM-6390A | 강채연(Kang Chaeyeon) |
031-299-6737
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| 8 | 미세구조분석실 : 81B104호 | 집속이온빔장치(FIB I) | FIB I | SMI3050TB | 전종철(Jeon Jongchul) |
031-299-6715
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| 9 | 미세구조분석실 : 81B102호 | 집속이온빔장치(FIB II) | FIB II | JIB-4601F | 김영미(Kim Youngmi) |
031-299-6729
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| 10 | 미세구조분석실 : 81B102호 | 집속이온빔장치(FIB Ⅲ) | FIB Ⅲ | NX2000 | 신연주(Shin Yeonju) |
031-299-6732
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| 11 | 미세구조분석실 : 81B104호 | 나노경도측정기 | Nanoindenter | NanoTest Vantage Platform | 신나라(Shin Nara) |
031-299-6730
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