나노경도측정기
|
|
|
|---|---|
| 단축명 | Nanoindenter |
| 모델명 | NanoTest Vantage Platform |
| 설치장소 | 미세구조분석실//[81B104]집속이온빔(FIB) |
| 제작사 | MICRO MATERIALS |
| 도입년도/가격 | 201512 / 249,000,000 |
| 담당자 | 김순섭 031-299-6776 |
| 장비용도 | |
| 시편의 매크로단위 경도 부터 나노단위 경도까지 정밀하게 측정할 수 있는 나노인덴테이션 뿐만 아니라 재료의 강도, 탄성력, 마모테스트에 따른 기계적 물성 변화를 실시간으로 측정할 수 있는 다기능성 멀티스케일 시험 및 측정장비 | |
| 기본사양 | |
| 1. NanoTesting system - Precision movement for automated transfer of sample between microscope and loading heads - Movement accuracy ±0.2 μm - X resolution/travel 0.02 um/50 mm - Y resolution/travel 0.02 um/150 mm - Z resolution/travel 0.02 um/50 mm - Mouse scroll-wheel control of stage velocity - Large samples can be accommodated without cutting - Max sample thickness 150 mm - Testable sample area 50 mm x 50 mm. 2. Low Load Head 1) Depth sensing capability. 2) Electromagnetic actuation system using a coil/ magnet assembly. 3) Load specifications: - Load range: 10 μN to 500 mN - Load resolution: 3 nN 3. High Load Head Load specifications: - Load range: 300 mN to 20 N - Load resolution: 3 μN 4. Indentation Module 5. Scratch and Wear Module 6. Nano-impact and fatigue 7. 3D Nanopositioning stage | |