5/25 팹테크산학세미나2 강의 안내
- 지능형팹테크융합전공
- 조회수554
- 2022-05-20
“Microcopy and tomography for detecting semiconductor defects “
“메모리 반도체의 불량 검침을 위한 현미경을 이용한 토모그라피 “
< 국민대학교 원종호 교수님 >
*강의는 5/25 수요일 3시부터 제1공학관 21534 호에서 대면강의로 진행됩니다. *
“Microcopy and tomography for detecting semiconductor defects “
“메모리 반도체의 불량 검침을 위한 현미경을 이용한 토모그라피 “
< 국민대학교 원종호 교수님 >
*강의는 5/25 수요일 3시부터 제1공학관 21534 호에서 대면강의로 진행됩니다. *