엘립소미터(Ellipsometer)
| 사진 |
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|---|---|
| 영문명/단축명 | Ellipsometer / Ellipsometer |
| 모델명 | SENResearch |
| 설치장소 | 표면분석실 / [81B111]기기분석실Ⅰ |
| 제작사 | SENTECH |
| 도입년도/가격 | 2022년 3월/ 원 |
| 담당자/연락처/e-mail | 이은영(Lee Eunyoung) / 031-299-6750 / ley1231@skku.edu |
♦ Features
• Widest spectral range and highest spectral resolution
- 190nm ~ 3,500nm 범위의 넓은 스펙트럼 범위를 다루고 있습니다.
• CCD Array detector를 이용한 빠른 측정 능력
• 빠른 Step and scan Analyzer를 이용한 낮은 S/N검출 비율
• 하나의 장비에서 지원하원 Full 15 Mueller matrix
• 피라미드 고미오 미터 방식을 이용한 넓은 측정 영역
• 다양한 모델링의 database 소유
♦ Specification
•
-
♦ Application
• Biology and Chemistry in Institute & Universities
• Telecommunication (LiNbO3, waveguides)
• Nanom aterials and particles
• 모든 분야의 Thin Film
• 편광상태변화(Psi / Delta)
• 굴절률(REFRACTIVE_INDEX)
• 두께(Thickness)
