미세구조분석실 연구장비 소개
* 기기명을 선택하시면 상세정보를 확인하실 수 있습니다.
| No. | 기기명 | 단축명 | 모델명 | 담당자 | 연락처 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 집속이온빔장치3 | FIB 3 | NX2000 | 신연주(Shin Yeonju) |
031-299-6732 |
| 2 | 집속이온빔장치2 | FIB 2 | JIB-4601F | 김영미(Kim Youngmi) |
031-299-6729 |
| 3 | 집속이온빔장치1 | FIB 1 | SMI3050TB | 정효인(Jung Hyoin) |
031-299-6777 |
| 4 | 초저온집속이온빔장치 | Cryo-FIB | Aquilos 2 | 박정양(PARK JEONG YANG) |
031-299-6726 |
| 5 | 고해상도/고분해능 초저온투과전자현미경1 | Cryo-TEM1 | Krios G4 | 박상호(Park Sangho) |
031-299-6725 |
| 6 | 고해상도/고분해능 초저온투과전자현미경2 | Cryo-TEM2 |
Glacios 2 |
박정양(PARK JEONG YANG) |
031-299-6726 |
| 7 |
고성능 원소성분분석 투과전자현미경(준비중) |
TEM4 |
High Performance EDS embedded TEM |
박상호(Park Sangho) |
031-299-6718 |
| 8 | 구면수차보정투과전자현미경3 | HRTEM 3 (Cs_corrected/STEM/EDS/EELS) | JEM ARM 200F | 송지호(Song Ji-ho) |
031-299-6734 |
| 9 | 분석투과전자현미경2 | HRTEM 2 (STEM/EDS) | JEM-2100F | 김현정(Kim Hyunjung) |
031-299-6735 |
| 10 | 고분해능 투과전자현미경1 | HRTEM 1 (EDS) | JEM-3010 | 김지혜(Kim Jihye) |
031-299-6738 |
| 11 | 초고분해능전계방사주사전자현미경6 | FESEM 6 (EDS/EBSD) | JSM-IT800 | 이혜림(Lee Hyerim) |
031-299-6742 |
| 12 | 초고분해능전계방사주사전자현미경5 | FESEM 5 (EDS/EBSD) | JSM-IT800 | 조현진(Jo Hyeonjin) |
031-299-6749 |
| 13 | 열전계주사전자현미경4 | FESEM 4 (EDS) | JSM-7600F | 김순섭 |
031-299-6776 |
| 14 | 열전계방사형주사전자현미경3 | FESEM 3 (EDS) | JSM7500F | 박연정 |
031-299-6737 |
| 15 | 열전계방사형주사전자현미경2 | FESEM 2 (EDS) | JSM7000F | 신나라(Shin Nara) |
031-299-6730 |
| 16 | [슈퍼유저용]주사전자현미경 | [슈퍼유저용]SEM | JSM-6390A | ||
| 17 | 나노경도측정기 | Nanoindenter | NanoTest Vantage Platform |