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분석실 안내

연구장비 소개

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고출력 박막용 엑스선회절분석기(HP-Thin Film XRD)

고출력 박막용 엑스선회절분석기
사진
영문명/단축명 High Power Thin Film X-Ray Diffractometer System / HP-Thin Film XRD
모델명 D8 ADVANCE
설치장소 표면분석실 / [81B105]엑스선분석실
제작사 Bruker Corporation
도입년도/가격 2011년 2월/ 250,000,000원
담당자/연락처/e-mail 김미래(Kim Mirae) / 031-299-6736 / mrmr24@skku.edu

 

♦ Features

 

• Rotating Anode : 6kW

 
 

♦ Analyze Mode

 

• th/2th scan

• 2th scan (GID, GI-XRD)

• phase 분석(search-match)

 

♦ Additional Options

 

• ICDD Database PDF-2

• Software : EVA

 

♦ Specification

 

• X-ray generator

Max 18kW (Rotating anode)

X-ray target : Cu (1.54Å)

• Goniometer

Scanning mode : Theta-theta vertical type

Goniometer radius : 250mm

Min. Step : 0.0001°

• Detector

Scintilation Counter  

 

♦ Application Data

 

• Phase분석(search-match): ICDD database matching(원소정보필요)